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Microscope Electronique à Balayages SH-3000: Observation Rapide, Facile et Efficace

Nouveau MEB compact de table HIROX : Microscope Electronique
à Balayages de table intégrant un système EDS BRUKER-AXS!
Facile à utiliser, rapide, performant et facile d'entretien,
le MEB compact HIROX combine la simplicité d'un microscope
optique avec la performance d'un microscope électronique
à balayages !

MEB compact et performant

Hirox, spécialiste de la microscopie vidéo numérique, a mis au point un nouveau type de MEB de table.

Ce MEB compact est l'intermédiaire entre la microscopie optique et la microscopie électronique à balayages.
Aussi simple qu'une caméra vidéo, le MEB compact peut être utilisé par tout le monde. L'interface du logiciel est convivial et les fonctions automatiques (Auto-ajustement et Auto-focus) font de ce microscope un outil rapide et performant.

Facile à installer, mobile, ce système compact de haute technologie couvre une large gamme de grossissement généralement suffisant pour la visualisation et le contrôle de la plupart des échantillons.

De 20x à 30 000x

Visualisation
Mesures
Contrôle
Sortie

... en seulement quelques secondes!

Intégration d'un système EDS de BRUKER-AXS

En plus de la visualisation des échantillons, vous pouvez également recueillir des informations d'identification automatique.
Grâce à la technologie SDD de Bruker, identifiez and quantifiez la composition chimique avec un simple clic de la souris !
Du bore à l'uranium, le détecteur SDD autonome et sans entretien nécessaire dispose d'une résolution stable jusqu'à 100 000 cps!
Enfin, le MEB compact offre une analyse très précise de n'importe quel détail.

Système EDS intégré pour la micro-analyse : Cartographie simple ou spectrale et profilage en option	Line profiles Element intensity along a line. Clear correspondence between zoomed image along the line and element line profile

Spécifications du logiciel EDS

QUANTAX 410M de BRUKER

Système basique X410M1

Détecteur SDD XFlash 410 (133 eV @ Mn Kalpha)
Détecteur à refroidissement Peltier sans entretien nécessaire
Détection du bore à l'uranium
Identification d'éléments automatique
Analyse qualitative en mode Spotlight ou en mode Scanning
Analyse quantitative standard avec correction pour le échantillons rugueux

Système avancé X410M2

Vision : traitement et mise en valeur de l'image
Point et Multipoint (multipoint automatique et analyse de l'&eaute;chantillon)
Ultra fast element line profile
Cartographie numérique de l'objet ultra rapide

Options

Présentation des résultats intégrée et rapport établi
Analyse quantitative avec HSQuant standard, (Phi(rho,z))...
Cartographie spectrale
Correction en temps réel du déplacement du faisceau
Analyse de particules automatique
Analyse de phase automatique

Spécifications du MEB

Caractéristiques techniques du MEB

Extrêmement facile à utiliser et logiciel convivial
Changement d'échantillon très rapide : Vide obtenu en moins de 3 minutes !
Paramètres d'enregistrement automatique
Grossissement de 20x à 30 000x
Table mobile selon les 3 axes X,Y,R
Distance de travail de 10 à 15 mm
Filament de tungstène (inclus avec 6 filaments pré-montés)
Haut-Voltage de 1 à 30 kV (pas de 5 kV)
Résolution de l'image de 1280x960 ou 2560x1920
Mesures : aire, dimensions, angle, etc.
Affichage à l'écran : graduation, voltage, grossissement
4 modes de numérisation (2 visualisations, 2 enregistrements de l'image)
"Bean Shift Coil" : déplacer facilement et précisément la zone de visualisation avec un logiciel de contrôle (très utile lors de l'observation à fort grossissement)
Logiciel de contrôle "Gun Align Coil" : precisely perform gun alignment after hardware aligning
Dimensions compactes : 70 kg, 49cm x 52cm x 54 cm

Spécifications de PC portable ou de bureau

Processeur 2.4 GHz avec 2 Go RAM
HDD 160 Go
Ecran LCD de 22" (ou 17" pour un portable)
Windows XP

Options

Table/Coffre métallique avec roues
Détecteur d'électrons rétrodiffusés
Axes XY motorisés
Phase Peltier (Peltier)
Système EDS (voir ci-dessus)

Accès à toutes les possibilités d'analyse grâce à un système EDS très performant : profilage, cartographie, cartographie spectrale avec correction du décalage de l'image... Le MEB compact d'Hirox est parfaitement adapté pour l'analyse élémentaire grâce au Haute-Voltage variable : de 1 à 30 kV.
Analyse de phase, recherche de particules, analyse du filtre et bien plus encore... tous ces outils sont également disponibles !